机译:光谱椭圆形测定离子植入无定形锗的复合介质函数的测定
机译:椭圆偏振光谱法测定0.6至6.5 eV之间的锗纳米晶体的介电功能
机译:勘误表:“基于椭圆偏振光谱的非晶态和结晶态ZnSnO合金和使用溅射沉积法生长的Zn_2SnO_4薄膜的光学特性的研究:介电函数和亚能隙态” [J.应用物理119,135302(2016)]
机译:基于椭圆偏振光谱的非晶态和结晶态ZnSnO合金以及使用溅射沉积法生长的Zn_2SnO_4薄膜的光学特性的研究:介电函数和亚隙态
机译:椭圆偏振光谱法测定氢化非晶硅薄膜的红外介电功能
机译:分光光度法表征表面,薄膜和离子注入的硅。
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:椭圆偏振光谱法测定离子注入和退火退火的非晶硅的复介电函数