首页> 外文期刊>Journal of Applied Physics >Erratum: 'Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn_2SnO_4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states' [J. Appl. Phys. 119,135302 (2016)]
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Erratum: 'Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn_2SnO_4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states' [J. Appl. Phys. 119,135302 (2016)]

机译:勘误表:“基于椭圆偏振光谱的非晶态和结晶态ZnSnO合金和使用溅射沉积法生长的Zn_2SnO_4薄膜的光学特性的研究:介电函数和亚能隙态” [J.应用物理119,135302(2016)]

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