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Erratum: “Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn2SnO4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states” J. Appl. Phys. 119, 135302 (2016)

机译：错误：“使用溅射沉积生长的无定形和结晶ZnSNO合金和Zn2SNO4薄膜的基于光谱椭圆形的基于光学性质的研究：介电函数和副膜状态”J。苹果。物理。 119,135302（2016）

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Kun Hee Ko; Hyeon Seob So; Dae Ho Jung; Jun Woo Park; Hosun Lee;
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年度 2018
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1. Erratum: 'Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn_2SnO_4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states' [J. Appl. Phys. 119,135302 (2016)] [J] . Ko Kun Hee, So Hyeon Seob, Jung Dae Ho, Journal of Applied Physics . 2018,第8期

机译：勘误表：“基于椭圆偏振光谱的非晶态和结晶态ZnSnO合金和使用溅射沉积法生长的Zn_2SnO_4薄膜的光学特性的研究：介电函数和亚能隙态” [J.应用物理119,135302（2016）]
2. Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn_2SnO_4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states [J] . Kun Hee Ko, Hyeon Seob So, Dae Ho Jung, Journal of Applied Physics . 2016,第13期

机译：基于椭圆偏振光谱的非晶态和结晶态ZnSnO合金以及使用溅射沉积法生长的Zn_2SnO_4薄膜的光学特性的研究：介电函数和亚隙态
3. Erratum: Magnetic and electrical properties of Fe‐B‐N amorphous films (invited) [J. Appl. Phys. 57, 3527 (1985)] [J] . Journal of Applied Physics . 1985,第9期

机译：勘误：Fe-B-N非晶态薄膜的磁和电性能（邀请）[J。应用物理57，3527（1985）]
4. The optical and crystalline structure properties of ZnO thin films grown by RF magnetron sputtering [C] . K.K.Kim, S.J.Park, J.H.Song, . 1999

机译：射频磁控溅射生长ZnO薄膜的光学和晶体结构性质
5. Structural and optical properties of crystalline organic thin films grown by organic molecular beam deposition. [D] . Haskal, Eliav Itzhak. 1994

机译：通过有机分子束沉积生长的结晶有机薄膜的结构和光学性质。
6. Erratum: “Optical properties of amorphous and crystalline Sb-doped SnO2 thin films studied with spectroscopic ellipsometry: Optical gap energy and effective mass” J. Appl. Phys. 118, 085303 (2015) [O] . Hyeon Seob So, Jun-Woo Park, Dae Ho Jung, 2016

机译：错误：“用光谱椭圆形测定法研究的无定形和结晶SB掺杂SnO2薄膜的光学性质：光学间隙能量和有效质量”J。苹果。物理。 118,085303（2015）

Erratum: “Spectroscopic ellipsometry-based study of optical properties of amorphous and crystalline ZnSnO alloys and Zn2SnO4 thin films grown using sputtering deposition: Dielectric function and subgap states” J. Appl. Phys. 119, 135302 (2016)

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