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机译:光学干涉术中功率谱和双谱中的检测噪声偏差和方差
机译:二维信号的常规双谱估计的渐近偏差和方差
机译:使用分数BISPectrum降噪技术进行浑浊材料的光学膜厚度测量
机译:基于非高斯噪声抑制的轴承故障检测增强调制信号BISPectrum分析
机译:基于随机噪声雷达噪声信号的差异和功率谱函数的相关输出分析
机译:切谱降噪技术与干涉测量中的应用
机译:复杂的差异方差血管造影和噪声偏倚校正用于视网膜光学相干断层扫描
机译:模仿内在对准:大规模结构BISPectrum诱导的CMB透镜 - 星系形状互相关功率谱的偏差
机译:粗光功率谱估计器(COpsE)数据采集系统的噪声分析