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机译:金属氧化物缓冲层厚度对并五苯薄膜晶体管性能的影响
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机译:无羟基聚苯乙烯缓冲层对具有高k氧化物栅介质的并五苯类薄膜晶体管电性能的影响
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机译:具有MoO
机译:固溶处理后过渡金属氧化物半导体电子产品:高性能薄膜晶体管和/或低温处理薄膜
机译:F4TCNQ掺杂的并五苯中间层对基于顶部接触并五苯的有机薄膜晶体管性能改善的影响
机译:通道层厚度对喷墨印刷In-Ga-Zn氧化物薄膜晶体管电性能的影响