Análise de contaminantes de fase líquida n?o aquosa (NAPLs) por aplica??o do método eletromagnético indutivo (EM)

摘要

O descarte indevido de resíduos industriais no solo tem causado danos ao meio ambiente e à saúde humana. A identifica??o e o diagnóstico de áreas contaminadas é um procedimento necessário afim de que seja possível tomar medidas de conten??o da fonte poluidora e posterior remedia??o. As técnicas geofísicas podem auxiliar na caracteriza??o do meio geológico, defini??o das dimens?es da pluma de contamina??o, sele??o de pontos para loca??o de po?os de monitoramento e de bombeamento. Este trabalho apresenta os resultados da aplica??o do método Eletromagnético Indutivo em uma área industrial contaminada por benzeno, tolueno, xileno (BTX) e dicloroetano. Os resultados indicam dois padr?es de migra??o dos contaminantes em subsuperfície. Uma tendência de migra??o no plano horizontal até o nível de 15 m de profundidade e uma tendência de migra??o no plano vertical entre 15 e 60 m de profundidade. As tendências de migra??o divergentes est?o condicionadas a densidade dos compostos que constituem a pluma de contamina??o, ou seja, um intervalo LNAPL sobrenadante (BTX), sobreposto a um intervalo DNAPL (1,2 dicloroetano).