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机译:通过分段扫描和测试点插入来提高片上延迟测量的小延迟故障覆盖率
机译:可扩展的扫描路径测试点插入技术,可增强标准扫描设计的延迟故障覆盖率
机译:可测试性设计,可完全覆盖标准全扫描电路中的延迟故障
机译:减少相关性以提高扫描路径设计中延迟故障的覆盖率
机译:改善小延迟故障覆盖率,以进行片上延迟测量
机译:压缩机制可减少测试模式计数,并针对路径延迟故障进行分段延迟故障测试
机译:使用IOLMaster扫描周边前房深度分析仪和前段光学相干断层扫描进行前房深度测量的比较
机译:可扩展的扫描路径测试点插入技术,可增强标准扫描设计的延迟故障覆盖率