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【24h】

The use of X-ray Crystallography to Determine Absolute Configuration (II)

机译:使用X射线晶体学确定绝对构型(II)

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摘要

An update is provided to H. D. Flack and G. Bernardinelli, Chirality, 2008, 20, 681–690 on The use of X-ray Crystallography to determine absolute configuration. In particular, comments are made about optical rotation, powder diffraction, the Bijvoet
机译:H. D. Flack和G. Bernardinelli,Chirality,2008,20,681–690提供了有关使用X射线晶体学确定绝对构型的更新。特别是关于旋光性,粉末衍射,Bijvoet的评论。

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