机译:I / sub DDQ /测试:它能否在DSM挑战中生存下来?
Texas A&M Univ., TX, USA;
integrated circuit testing; leakage currents; CMOS integrated circuits; deep-submicron devices; integrated circuit testing; DSM devices; leakage current; direct drain quiescent current testing; spatial correlation; CMOS circuits;
机译:克服软件测试的十大挑战:以人为本。威廉·佩里和兰德尔·赖斯。由美国纽约多塞特豪斯(Dorset House)出版,1997年。ISBN:0-932633-38-2,202页。价格:美国33.45美元,软封面
机译:即插即用I / sub DDQ /测试治具测试
机译:用于I / sub DDQ /测试CMOS电路中的桥接故障的测试生成
机译:I / sub DDQ /配置文件:一种减少I / sub DDQ /测试期间测试逃逸和良率损失的技术
机译:通过I(DDQ)测试进行故障仿真和故障建模。
机译:枯草芽孢杆菌DSM 32315补充剂可减轻产气荚膜梭菌挑战对肉鸡生长性能和肠道菌群的影响
机译:枯草芽孢杆菌DSM 32315对坏死肠炎挑战肉鸡鸡肉鸡病理,性能和肠道微生物的影响