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Plug-and-play I/sub DDQ/ Testing for test fixtures

机译：即插即用I / sub DDQ /测试治具测试

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来源
《IEEE Design & Test of Computers Magazine》 |1995年第3期|共页
作者
Baker K.; Hales A.;
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收录信息美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类计算技术、计算机技术;
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