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机译:在CMOS逻辑电路中使用SSFTS检测多个故障
Department of Electrical Engineering, Colorado State University, Fort Collins, CO 80523, U.S.A.;
VLSI testing; stuck-at fault; bridging fault; current monitoring;
机译:CMOS逻辑电路中的多个卡死故障检测
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机译:在CMOS逻辑电路中使用SSFTS检测多个故障
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