机译:晶圆级芯片规模封装焊点电迁移引起的空隙和失效时间的预测
FairchildSemiconductorCorporation,SouthPortland,ME,USA;
Electromigration; WLCSP; finite element analysis (FEA); solder joint reliability; void prediction;
机译:无铅晶圆级芯片级封装中的Sn-4Ag-0.5Cu焊球和Sn-7Zn-AI(30 ppm)焊膏的焊点界面反应研究
机译:零星早期寿命焊球脱离效果对晶圆级芯片级封装焊接接头的后续微观结构演化和疲劳
机译:一种混合有限元建模:人工神经网络方法,用于预测晶圆级芯片尺度包装中的焊接关节疲劳寿命
机译:空隙,裂纹和PCB厚度对晶圆级芯片级封装(WLCSP)组件焊点可靠性的影响
机译:晶圆级封装中焊点电迁移的有限元建模。
机译:基于离散空隙形成的倒装芯片焊点失效的电迁移机理
机译:基于离散空隙形成的倒装芯片焊点失效的电迁移机制
机译:使用sRs软件的无铅芯片电阻器,芯片电容器和铁氧体片式电感器的焊点可靠性预测