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表面欠陥検査装置“アイリスシリーズ”とマーキング装置“AMKシリーズ”

机译:表面缺陷检查系统“虹膜系列”和标记系统“ AMK系列”

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摘要

フイルムや金属,紙,不織布など. あらゆるシート製品の生産ラインおよ び加工ラインにおいて技術の高度化が 進められているが,とくにフイルム分 野では電子産業の著し技術進歩に合わ せた高性能・高機能・高付加価値の電 子材料や光学フイルム.液晶フイルム などIT関連の製品が需要を拡大させて いる.したがってフィルムメーカー各 社の技術は日進月歩であり,それにと もなった品質管理体制の強化も求めら れている.例えば,目視での確認が容 易ではなかった微小欠陥や低コントラ ストの欠陥を検出することが,最近で は品質管理の向上にとって重要なテー マとなっている.
机译:薄膜,金属,纸张,无纺布等尽管在所有片材产品的生产线和加工线中都取得了技术进步,特别是在薄膜领域,但与电子行业显着的技术进步相一致的高性能,高功能,高附加值的电力也在不断发展。子材料和光学膜。对液晶薄膜等IT相关产品的需求正在增长。因此,薄膜制造商的技术在不断提高,因此也有必要相应地加强质量控制体系。例如,检测微小的缺陷和低对比度的缺陷,这在视觉上不容易确定,最近已成为改善质量控制的重要主题。

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