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RADIATION γ ANNEALING OF SILICON CARBIDE IRRADIATED IN A BOR-60 REACTOR

机译:BOR-60反应器中辐照的碳化硅的辐射γ退火

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摘要

The results of irradiating at 400-800℃ silicon carbide, having the β-SiC cubic modification, in different channels of the BOR-60 reactor, where the radiation composition factor was varied over the range 2.3-6.5, are discussed. The expansion of the crystal lattice of β-SiC in the saturation stage is taken as the measure of damage. Data on isochronous annealing are used to investigate the energy spectrum for activation of annealing of defects - the smearing at high and low energy under the influence of γ radiation. The results are compared with data from similar irradiation of silicon carbide in MR and BR-10 and with data on the influence of γ radiation on other materials and their properties.
机译:讨论了在辐射组成因子在2.3-6.5范围内变化的BOR-60反应器的不同通道中于400-800℃辐照具有β-SiC立方晶型的碳化硅的结果。 β-SiC在饱和阶段的晶格膨胀被用作损伤的量度。等时退火的数据用于研究激活缺陷退火的能谱-在γ辐射的影响下在高能和低能下的拖影。将结果与MR和BR-10中类似的碳化硅辐照数据以及γ辐照对其他材料及其性能的影响进行了比较。

著录项

  • 来源
    《Atomic Energy》 |2004年第4期|p.701-706|共6页
  • 作者单位

    Russian Science Center Kurchatov Institute;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 原子能技术;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 00:41:40

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