机译:Cu-9%Al(111)单晶上Al2O3薄膜的表面研究和厚度控制
Natl Inst Mat Sci, Tsukuba, Ibaraki 3050003, Japan;
epitaxial Al2O3 thin film; Cu-9Al(111) single crystal; oxidation; Auger electron spectroscopy; film thickness control; AUGER LINES; OXIDE-FILM; GROWTH;
机译:在Pt(111)/ Ti /α-Al_2O_3(0001)衬底上生长的SrTiO_3薄膜的受控晶向:生长温度和Ti层厚度的影响
机译:Cu-9 at。%Al(111)单晶表面上Al_2O_3纳米线的生长
机译:Y稳定ZrO2(111)上生长的In2O3(111)单晶薄膜的表面结构和电子性能
机译:Si单晶体表面(100)和(111)的原子取代方法外延生长的机制和在单晶中生长的Si膜的表面上的表面(100)和(111)
机译:扫描隧道显微镜研究铑(111)和铂(111)单晶表面上分子单层的结构和动力学。
机译:{112} 111铝单晶在累积辊焊过程中厚度变形和织构的晶体可塑性有限元研究
机译:厚度控制的铝诱导结晶在绝缘体上的大晶粒多晶(111)Ge膜
机译:硅薄膜准分子激光晶化:用于薄膜晶体管应用的晶界限位和单晶岛材料的人工控制超横向生长