机译:PECVD沉积MTES / O_2对低介电常数SiOC(-H)薄膜热处理的影响。
Nano Thin Film Materials Laboratory, Department of Physics, Cheju National University, Jeju 690-756, South Korea;
SiOC(-H) films; PECVD; low-k dielectrics; MTES; FTIR;
机译:PECVD沉积MTES / O2制备低介电常数SiOC(-H)薄膜的结构和力学性能
机译:CH4等离子体处理对TMS / O-2 PECVD制备的低介电常数SiOC(-H)薄膜的影响
机译:使用MTES / O_2前驱体的等离子增强低介电常数SiOC(-H)薄膜的化学气相沉积
机译:使用PECVD沉积的MTES / O_2的低介电常数SIOC(-H)薄膜的结构和力学性能
机译:用于超低介电常数层间电介质应用的含氟和碳的PECVD膜和类金刚石碳膜的研究。
机译:通过PECVD沉积低缺陷密度nc-Si:H薄膜的便捷有效方法
机译:采用pECVD沉积的mTEs / O2制备低介电常数siOC(-H)薄膜的结构和力学性能