机译:并五苯薄膜晶体管中陷阱态的厚度依赖性原位研究
Department für Physik and CeNS, Ludwig-Maximilians-Universit&xe4t,;
Geschwister-Scholl-Platz 1;
80539 M&xfcnc;
hen, Germany;
机译:并五苯薄膜晶体管中陷阱态的厚度依赖性原位研究
机译:并五苯薄膜晶体管中陷阱态的厚度依赖性原位研究
机译:区域开并五型薄膜晶体管中电荷俘获的扫描开尔文探针研究
机译:根据并五苯薄膜晶体管的能量分布提取体积和界面陷阱密度
机译:并五苯晶体取向的技巧,以提高溶液处理的有机薄膜晶体管的性能。
机译:并五苯薄膜晶体管的原位制备电学和表面分析表征
机译:薄膜:通过频率分辨扫描光响应显微镜进行扫描密度和五烯薄膜晶体管中的捕集密度和热点的映射(ADV。Mater。40/2013)