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High-brightness water-window electron-impact liquid-jet microfocus source

机译:高亮度水窗电子冲击液体喷射微聚焦源

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摘要

We demonstrate stable high-brightness operation of an electron-impact water-jet-anode soft x-ray source. A 30 kV, 7.8 W electron beam is focused onto a 20 μm diameter jet resulting in water-window oxygen line emission at 525 eV/2.36 nm with a brightness of 3.0×109 ph/(s×μm2×sr×line). Monte Carlo-based modeling shows good quantitative agreement with the experiments. The source has potential to increase the x-ray power and brightness by another 1–2 orders of magnitude and fluid-dynamical jet instabilities is determined to be the most important limiting factor. The source properties make it an attractive alternative for table-top x-ray microscopy.
机译:我们演示了电子撞击水射流阳极软X射线源的稳定高亮度操作。将30 kV,7.8 W的电子束聚焦到直径为20μm的射流上,从而在525 eV / 2.36 nm处发射水窗氧气线,亮度为3.0×109 ph /(s×μm2×sr×线)。基于蒙特卡洛的模型显示出与实验良好的定量一致性。该源有潜力将X射线功率和亮度再提高1-2个数量级,流体动力射流的不稳定性被认为是最重要的限制因素。光源特性使其成为台式X射线显微镜的诱人替代品。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2010年第8期|共页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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  • 正文语种 eng
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