机译:根据厚度和退火温度,Hf0.5Zr0.5O2薄膜的相变和铁电性能
WCU Hybrid Materials Program, Department of Material Science & Engineering and Inter-university Semiconductor Research Center, Seoul National University, Seoul 151-744, South Korea|c|;
机译:Hf_(0.5)Zr_(0.5)O_2薄膜根据厚度和退火温度的相变和铁电性能
机译:水性前驱体制备的Hf0.5Zr0.5O2薄膜的厚度依赖性相演化和介电性能
机译:高压退火综合研究HF0.5ZR0.5O2薄膜铁电性能
机译:HF0.5ZR0.5O2铁电薄膜中结构变换的原位原子可视化:从非极性四方相到极性正畸相位
机译:氢退火和衬底温度对射频溅射氧化锌薄膜性能的影响
机译:原子层沉积生长La2O3薄膜的膜厚和退火温度表征结构性能。
机译:外延应变HF0.5ZR0.5O2薄膜中的菱形铁电相
机译:室温薄膜Ba(x)sr(1-x)TiO3 Ku波段耦合微带相移器:膜厚度,掺杂,退火和基板选择的影响