Erratum: “Fatigue properties of atomic-layer-deposited alumina ultra-barriers and their implications for the reliability of flexible organic electronics” [Appl. Phys. Lett. 101, 251901 (2012)]

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• 来源
  《Applied Physics Letters》 |2013年第5期|p.1|共1页
• 作者

  Baumert E. K.; Pierron O. N.;

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• 作者单位

  G. W. Woodruff School of Mechanical Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, Georgia 30332-0405, USA;

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• 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  alumina; atomic layer deposition; fatigue; flexible electronics; molecular electronics; reliability; 6220me; 8115Gh; 8140Np; 8565+h; 9910Cd;

  机译：氧化铝原子层沉积;疲劳;柔性电子产品;分子电子学可靠性;6220me;8115Gh;8140Np;8565+小时;9910Cd;
• 入库时间 2022-08-17 13:11:32