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Effects of CdSe shell layer on the electrical properties of nonvolatile memory devices fabricated utilizing core-shell CdTe-CdSe nanoparticles embedded in a poly(9-vinylcarbazole) layer

机译:CdSe外壳层对非易失性存储器件电学性能的影响,该器件使用嵌入在聚(9-乙烯基咔唑)层中的核壳CdTe-CdSe纳米颗粒制造

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摘要

Nonvolatile memory devices were fabricated with core-shell CdTe-CdSe nanoparticles embedded inna polyu00019-vinylcarbazoleu0002u0001PVKu0002 layer to investigate the variations in the electrical properties due tona CdSe shell layer. Capacitance-voltage measurements on Al/CdTe nanoparticles embedded in PVKnlayer/p-Si devices and on Al/core-shell CdTe-CdSe nanoparticles embedded in PVK layer/p-Sindevices at 300 K showed hysteresis behaviors with a flatband voltage shift due to the existence ofnthe CdTe and the CdTe-CdSe nanoparticles. Capacitance-time measurements showed that thenretention time for devices fabricated utilizing core-shell CdTe-CdSe nanoparticles was larger thannthat for devices fabricated utilizing CdTe nanoparticles. © 2010 American Institute of Physics.nu0003doi:10.1063/1.3360215
机译:用嵌入在聚u00019-乙烯基咔唑u0002u0001PVKu0002层中的核-壳CdTe-CdSe纳米颗粒制造了非易失性存储器件,以研究由于CdSe壳层而引起的电性能变化。嵌入PVKnlayer / p-Si器件中的Al / CdTe纳米颗粒和嵌入PVK层/ p-Sin器件中的Al /核壳CdTe-CdSe纳米颗粒在300 K时的电容电压测量显示出滞后行为,由于CdTe和CdTe-CdSe纳米粒子的存在。电容时间测量表明,使用核壳型CdTe-CdSe纳米颗粒制造的器件的保留时间比使用CdTe纳米颗粒制造的器件的保留时间长。 ©2010美国物理研究所.nu0003doi:10.1063 / 1.3360215

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2010年第12期|p.1-3|共3页
  • 作者单位

    National Research Laboratory for Nano Quantum Electronics Devices, Division of Electronics andComputer Engineering, Hanyang University, Seoul 133-791, Republic of Korea2Department of Molecular Science & Technology, Ajou University, Suwon 443-749, Republic of Korea;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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