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Terahertz conductivity of doped silicon calculated using the ensemble Monte Carlo/finite-difference time-domain simulation technique

机译:使用集成蒙特卡罗/有限差分时域仿真技术计算的掺杂硅的太赫兹电导率

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摘要

We present terahertz-frequency characterization of doped silicon via a multiphysics numericalntechnique that couples ensemble Monte Carlo u0001EMCu0002 simulation of carrier transport and anfinite-difference time-domain u0001FDTDu0002 solver of Maxwell’s curl equations. We elucidate thenimportance of rigorous enforcement of Gauss’s law, in order to avoid unphysical charge buildup andnenhance solver accuracy. The calculated complex conductivity of doped bulk silicon showsnexcellent agreement with available experimental data. This comprehensive microscopic simulator isna valuable predictive tool in the terahertz frequency range, where experimental data are scarce andnthe Drude model inadequate.
机译:我们通过多物理场数值技术提出了掺杂硅的太赫兹频率特性,该技术将整体蒙特卡洛u0001EMCu0002模拟载流子传输与麦克斯韦卷曲方程的时域无限差分时域u0001FDTDu0002耦合。然后,我们阐明严格执行高斯定律的重要性,以避免非自然的电荷积累和提高求解器的准确性。掺杂的块状硅的计算的复数电导率与可用的实验数据显示出极好的一致性。这种全面的微观模拟器是太赫兹频率范围内的宝贵预测工具,那里的实验数据稀少,而Drude模型不足。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2010年第6期|p.1-3|共3页
  • 作者单位

    Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin–Madison,1415 Engineering Drive, Madison, Wisconsin 53706-1691, USA;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
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