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机译:在等离子体沉积的氢化非晶硅薄膜上测得的光谱二次谐波产生
Department of Applied Physics, Eindhoven University of Technology, P.O. Box 513, 5600 MB Eindhoven, The Netherlands;
机译:氢化非晶氮化硅薄膜的二次谐波产生分析
机译:尾态联合密度法研究氢化非晶碳化硅薄膜的室温光致发光光谱及其在等离子体沉积氢化非晶碳化硅薄膜中的应用
机译:通过光谱和实时二次谐波探测氢化非晶硅的表面状态
机译:椭圆偏振光谱法测定氢化非晶硅薄膜的红外介电功能
机译:等离子体沉积非晶硅薄膜的表面反应性,粗糙度和结晶度的原子分析。
机译:通过快速热退火工艺增强氢化非晶碳化硅薄膜的光致发光
机译:在等离子体沉积的氢化非晶硅薄膜上测得的光谱二次谐波产生