机译:用开尔文力探针显微镜研究GaAs(001)上InAs量子点中功函数的尺寸依赖性
Core Research for Evolutional Science and Technology (CREST) of Japan Science and Technology Agency (JST), Shibuya-ku, Tokyo 150-0002, Japan;
机译:用开尔文探针力显微镜研究横向平均效应对InAs点表面电势测量的影响
机译:通过原子力显微镜局部氧化纳米光刻技术在GaAs(001)图案化衬底上生长的InAs量子点的定点横向排列
机译:原子力显微镜监测InAs / GaAs(001)自组装量子点的2d-3d跃迁
机译:在GaAs(001)上自组装INAS量子点的尺寸分布的生长温度依赖性:从扩散到菌株有限的生长
机译:在2-D电场下探索InAs / GaAs量子点和量子点分子中的单孔状态
机译:InAs(001)表面的高分辨率原子力和开尔文探针力显微镜图像数据的调频方法
机译:使用频率调制方法,高分辨率原子力和Kelvin探头力显微镜图像(001)表面的INAS(001)表面