首页> 外文期刊>Applied Physics Letters >Size dependence of the work function in InAs quantum dots on GaAs(001) as studied by Kelvin force probe microscopy
【24h】

Size dependence of the work function in InAs quantum dots on GaAs(001) as studied by Kelvin force probe microscopy

机译:用开尔文力探针显微镜研究GaAs(001)上InAs量子点中功函数的尺寸依赖性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

We have investigated a work function of single InAs quantum dots (QDs) on GaAs(001) correlating with the dot size by means of Kelvin force probe microscopy. The observed contact potential difference (CPD) of the single QD is lower than that of an InAs wetting layer, and increases with decreasing QD height. The height dependence of the CPD is well interpreted in terms of the quantum size effect by which the amount of accumulated charges in the QD is determined through the confinement energy levels in the QD.
机译:我们已经通过开尔文力探针显微镜研究了GaAs(001)上单个InAs量子点(QD)的功函数与点的大小相关。单个QD的观察到的接触电势差(CPD)低于InAs润湿层的接触电势差,并且随着QD高度的减小而增加。 CPD的高度依赖性可以通过量子尺寸效应得到很好的解释,通过量子尺寸效应可以通过QD中的约束能级确定QD中的累积电荷量。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2004年第19期|p.3834-3836|共3页
  • 作者单位

    Core Research for Evolutional Science and Technology (CREST) of Japan Science and Technology Agency (JST), Shibuya-ku, Tokyo 150-0002, Japan;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:23:16

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号