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True molecular resolution in tapping-mode atomic force microscopy with high-resolution probes

机译:使用高分辨率探针的分接模式原子力显微镜中的真实分子分辨率

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摘要

True molecular resolution was demonstrated in tapping-mode atomic force microscopy study of polydiacetylene crystal using carbon probes with an extremity of ~1 nm. Images of the bc plane of the crystal, which were obtained at ambient conditions, reproduce the crystallographic molecular arrangement. The image features directly correspond to the edges of the individual side groups of the polymer chains, which form the crystal surface. In the consecutive images, the molecular-size defects have been observed on this surface as an additional proof of the true molecular resolution achieved with the probes.
机译:使用末端为〜1 nm的碳探针,在聚二乙炔晶体的敲击模式原子力显微镜研究中证明了真正的分子分辨率。在环境条件下获得的晶体的bc平面图像重现了晶体学分子排列。图像特征直接对应于形成晶体表面的聚合物链的各个侧基的边缘。在连续的图像中,已经在该表面上观察到了分子大小的缺陷,这是用探针获得的真实分子分辨率的另一个证明。

著录项

  • 来源
    《Applied Physics Letters》 |2004年第14期|p.2697-2699|共3页
  • 作者

    Dmitry Klinov; Sergei Magonov;

  • 作者单位

    Shemyakin-Ovchinnikov Institute of Bioorganic Chemistry, Russian Academy of Sciences, ul. Mikluho-Maklaya 16/10. 117871 GSP Moscow, V-437, Russia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

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