机译:光学二次谐波探测KNbO_3薄膜的铁电性质。
机译:通过二次谐波探测BiFeO3薄膜中的铁电畴工程
机译:光学二次谐波产生对铁电薄膜偏振转换的影响
机译:光学二次谐波产生,用于确定铁电薄膜中的畴取向
机译:使用二次谐波产生探测多层铁电聚合物膜的限制效应
机译:薄膜晶体和铁电BiFeO3的结构与性能表征:耦合的TEM,SPM和光学探针方法。
机译:二次谐波显微镜研究四方BiFeO3薄膜的铁电畴态
机译:勘误:“通过光学二次谐波产生探测铁电Bi4Ti3O12Bi4Ti3O12薄膜的畴微观结构”J.申请物理学。 89,1387(2001)