首页> 外文期刊>Applied Physicsletters >Electromigration-induced Shock Waves On Metal Thin Films
【24h】

Electromigration-induced Shock Waves On Metal Thin Films

机译:电迁移引起的金属薄膜上的冲击波

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

It is shown that surface electromigration can produce shock waves that retain their form as they propagate on the edge of a single-crystal metal thin film. We explain why these shocks form, determine their velocity, and find their internal structure. If two shocks are present initially, they collide and fuse to form a single shock.
机译:结果表明,表面电迁移可产生冲击波,当它们在单晶金属薄膜的边缘上传播时,冲击波将保持其形状。我们解释了为什么形成这些冲击,确定其速度并找到其内部结构。如果最初出现两次电击,它们会碰撞并融合形成一次电击。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2008年第21期|109-111|共3页
  • 作者

    R. Mark Bradley;

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:20:52

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号