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Mesoscopic phenomena in Au nanocrystal floating gate memory structure

机译:金纳米晶体浮栅存储结构的介观现象

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摘要

A resonant tunneling process is demonstrated in the HfAlO/Au nanocrystals/HfAlO trilayer nonvolatile memory (NVM) structure on Si, where the electrons tunnel back and forth to the Au nanocrystals due to the various mesoscopic behaviors. The electron tunneling behavior in this trilayer structure exhibits dissimilar resemblance to those in double-barrier tunnel junctions taking into account of the correlation of Coulomb blockade effect. The observed specific tunneling process is beneficial in studying the interplays of various mesoscopic physics and application of single electron devices into NVM.
机译:在Si上的HfAlO / Au纳米晶体/ HfAlO三层非易失性存储器(NVM)结构中证明了共振隧穿过程,其中由于各种介观行为,电子来回隧穿到Au纳米晶体。考虑到库仑阻塞效应的相关性,这种三层结构中的电子隧穿行为与双势垒隧道结中的电子隧穿行为显示出不同的相似性。观察到的特定隧穿过程有利于研究各种介观物理的相互作用以及将单电子器件应用于NVM。

著录项

  • 来源
    《Applied Physicsletters》 |2009年第11期|113109.1-113109.3|共3页
  • 作者

    K. C. Chan; P. F. Lee; J. Y. Dai;

  • 作者单位

    Department of Applied Physics, The Hong Kong Polytechnic University. Hong Kong, People's Republic of China;

    Department of Applied Physics, The Hong Kong Polytechnic University. Hong Kong, People's Republic of China;

    Department of Applied Physics, The Hong Kong Polytechnic University. Hong Kong, People's Republic of China;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:19:52

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