机译:在g因子工程量子点中由光子产生的电子的单电荷检测
CREST-JST, Kawaguchi Saitama 332-0012, Japan;
CREST-JST, Kawaguchi Saitama 332-0012, Japan;
CREST-JST, Kawaguchi Saitama 332-0012, Japan RIKEN, Wako Saitama 351-0198, Japan;
CREST-JST, Kawaguchi Saitama 332-0012, Japan Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University, Sendai 980-8577, Japan;
机译:单次检测可调谐横向量子点中单个光子产生的电子
机译:少数电子状态下横向耦合量子点电路中的单电子充电和检测
机译:通过非接触原子力显微镜检测单个InAs量子点中的单电子电荷
机译:使用串联的多个单电子晶体管检测硅双量子点中的单电荷极化
机译:超导单电子晶体管,用于基于Si / SiGe的量子点中的电荷感测。
机译:共振隧穿电流的量子点单光子开关用于区分光子数检测
机译:在横向双量子点中从单光子到单电子自旋的角动量转移检测
机译:限制Inas量子点和光子的单电子自旋之间量子纠缠的证明。