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机译:超导膜中临界电流密度的厚度依赖性:一种几何方法
Atominstitut, Vienna University of Technology, Stadionallee 2, 1020 Vienna, Austria;
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机译:超导膜中临界电流密度的厚度依赖性:一种几何方法
机译:$ {rm GdBa} _ {2} {rm Cu} _ {3} {rm O} _ {7-delta} $超导膜的临界电流密度:厚度,温度和场相关性
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机译:(07D714)GDBA_2CU_3O_(7-Δ)薄膜缩小电流密度的厚度依赖性与BASNO_3添加
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