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机译:纯和添加BaSnO_3的GdBa_2Cu_3O_(7-δ)薄膜中的纳米结构形成与临界电流密度的厚度依赖性之间密切相关
机译:(07D714)GDBA_2CU_3O_(7-Δ)薄膜缩小电流密度的厚度依赖性与BASNO_3添加
机译:HTS YBCO薄膜中临界电流密度的厚度依赖性机理及其纳米工程消除方法。
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机译:原位比较Y Ba_2 Cu_3中的临界电流密度 O_ {7- \ delta} $薄膜通过两种筛选技术测量 标准