机译:β-Ga_2O_3金属氧化物半导体场效应晶体管对γ射线辐射的辐射硬度
National Institute of Information and Communications Technology, 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei, Tokyo 184-8795, Japan;
National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology, 1233 Watanukimachi, Takasaki, Gunma 370-1292, Japan;
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National Institute of Information and Communications Technology, 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei, Tokyo 184-8795, Japan;
Tamura Corporation, 2-3-1 Hirosedai, Sayama, Saitama 350-1328, Japan;
Tamura Corporation, 2-3-1 Hirosedai, Sayama, Saitama 350-1328, Japan;
National Institute of Information and Communications Technology, 4-2-1 Nukui-Kitamachi, Koganei, Tokyo 184-8795, Japan;
机译:β-Ga_2O_3(010)衬底上的耗尽型Ga_2O_3金属氧化物半导体场效应晶体管及其器件特性的温度依赖性
机译:在重离子撞击后进行伽马射线照射期间辐射硬化垂直双扩散金属氧化物 - 半导体场效应晶体管的降解
机译:深亚微米金属氧化物半导体场效应晶体管在100℃2 MeV电子辐照下的异常阈值电压变化
机译:Ga2O3 MOSFET对伽玛射线辐射的辐射硬度
机译:常规金属氧化物半导体场效应晶体管的离子液体模数研究
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管剂量计在计算机断层摄影辐射剂量测定中的校准和误差分析
机译:通过UV照射的AlGaN / GaN金属氧化物半导体异质结构场效应晶体管特性的变形
机译:评估绝缘体上硅mOs(金属氧化物半导体)晶体管对10-KeV X射线和钴-60辐照的响应