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机译:C面4h-sic金属氧化物半导体结构中未发生直接氧化的近界面陷阱的研究
Graduate School of Materials Science, Nara Institute of Science and Technology, 8916-5 Takayama, Ikoma, Nara 630-0192, Japan;
机译:使用改进的分布式电路模型表征4H-SiC金属氧化物半导体界面处的近界面陷阱
机译:4H-SiC上的金属氧化物半导体场效应晶体管中的有源近界面陷阱的能级
机译:Al_2O_3 / 4H-SiC与Al_2O_3 / SiO_2 / 4H-SiC结构中近界面陷阱的比较
机译:近界面陷阱在4H-SIC MOS电容中的温度独立效果
机译:用绝缘子覆盖的金属氧化物半导体电极研究电化学产生的热/溶剂化电子和氢原子对氮的还原作用
机译:影响3C夹杂物发生的因素的调查用于轴上的轴C面4H-SIC外延层
机译:al $ _2 $ O $ _3 $ / 4H-siC和al的近界陷阱比较 al $ _2 $ O $ _3 $ / siO $ _2 $ / 4H-siC结构