机译:多对多综合相对重要的分析及其在半导体电气测试参数分析中的应用
Graduate Institute of Industrial Engineering National Taiwan University Taipei 104 Taiwan;
Department of Mechanical Engineering National Taiwan University Taipei 104 Taiwan;
Graduate Institute of Industrial Engineering National Taiwan University Taipei 104 Taiwan Department of Mechanical Engineering National Taiwan University Taipei 104 Taiwan;
Canonical correlation analysis; Semiconductor yield analysis; Feature selection; Multivariate analysis; Relative importance; Relative weight;
机译:多对多的优势指数及其在半导体屈服分析中的应用
机译:综合相对重要性分析及其对高尺寸基因表达数据分析的应用
机译:一种优化半导体故障分析应用的氙气等离子体聚焦离子梁仪的综合方法
机译:Web应用程序测试和性能分析的综合方法
机译:生物医学应用芯片实验室中传感器的全面测试和性能分析。
机译:新参数在6分钟步行测试中的应用以对COPD患者的运动能力进行综合分析
机译:A3B6型分层半导体晶体的电气,磁性和结构性能分析,其与金属相插在军用应用中
机译:半导体测量技术:用于测量CmOs / sOs工艺性能和控制的综合测试模式的设计,测试和分析