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Reusable TiN Substrate for Surface Plasmon Resonance Heterodyne Phase Interrogation Sensor

机译:用于表面等离子体共振外差相询问传感器的可重复使用的锡衬底

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摘要

A TiN-based substrate with high reusability presented high-sensitivity refractive index measurements in a home-built surface plasmon resonance (SPR) heterodyne phase interrogation system. TiN layers with and without additional inclined-deposited TiN (i-TiN) layers on glass substrates reached high bulk charge carrier densities of 1.28 × 10 and 1.91 × 10 cm , respectively. The additional 1.4 nm i-TiN layer of the nanorod array presented a detection limit of 6.1 × 10 RIU and was higher than that of the 46 nm TiN layer at 1.2 × 10 RIU when measuring the refractive index of a glucose solution. Furthermore, the long-term durability of the TiN-based substrate demonstrated by multiple processing experiments presented a high potential for various practical sensing applications.
机译:具有高可重用性的基于锡基底物,在家用的表面等离子体共振(SPR)外差相询问系统中呈现高灵敏度折射率测量。在玻璃基板上具有和没有额外的倾斜沉积的锡(I-TIN)层的锡层分别达到1.28×10和1.91×10cm的高批量电荷载体密度。纳米棒阵列的另外的1.4nm I-TiN层呈现6.1×10的检出限,并且在测量葡萄糖溶液的折射率时,高于1.2×10 Riu的46nm TiN层的检出限。此外,多种处理实验证明的基于锡基的基质的长期耐久性呈现了各种实际传感应用的高潜力。

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