SEM; quantitative imaging; back-scattered electrons; standardless calibration; electron mirror; sample bias; Monte Carlo simulation; thin coating layers;
机译:在校准和验证过程中通过涡流相厚度计提供测量金属涂层厚度的均匀性
机译:磁性厚度计的刻度和定标中使用的涂层厚度的测量
机译:使用各种基材偏压通过电弧离子镀制备的NiCrAlY涂层的氧化行为:化学成分和涂层厚度的影响
机译:金属涂层厚度测量的相位敏感涡流方法 - 涂层厚度仪和金属涂层厚度标准的校准和验证问题
机译:使用电化学技术研究有机涂层的腐蚀防护:热性能表征,膜厚研究和涂层性能评估。
机译:聚合物基材上透明保护涂层的厚度表征工具箱
机译:用于薄膜厚度估计的杆和BSE探测器的光束能量依赖性校准
机译:用于监测介电基板上的介电涂层厚度的装置。 (Ustroystvo dlya kontrolya tolshchiny dielektricheskogo pokrytiya na dielektricheskoy osnove)。