机译:使用C-V和I-V测量准确提取碳纳米管网络晶体管中的迁移率
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机译:通过在短通道MOSFET上进行分立C-V测量来精确提取通道长度
机译:具有HfSiON和TiN金属栅极的纳米级CMOSFET的精确UHF C-V测量的测试结构
机译:系统发育比较测量及其朝向进化历史准确推理的应用
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