Cephalometry Orthodontics Systematic review Reliability Validity;
机译:头正畸学2D和3D中的头部测量术:由Katherine Kula和Ahmed Ghoneima(编辑)编辑,2018年。Quintessence出版。 ISBN:978-0-86715-762-8。 包含208页。 价格,118.00美元。
机译:使用3D锥形束CT验证常规2D侧向头颅测量
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