surface dose extrapolation method ionization chamber OSL TLD film;
机译:使用常用检测器进行表面剂量测量:一致的厚度校正方法
机译:质子剂量分布测量使用MOSFET检测器具有简单的剂量加权校正方法,以使效果
机译:热电探测器:空间非均匀性测量和校正方法
机译:用于快速,高精度XPS测量的分布校正厚度和剂量
机译:使用方差法实时测量辐射剂量和质量的探测器和电子设备。
机译:使用MOSFET检测器的质子剂量分布测量以及用于LET效应的简单剂量加权校正方法
机译:表面剂量测量与常用探测器:一致的厚度校正方法