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Dual floor burr hole technique in deep brain stimulation: A retrospective study on 209 patients

机译:双层钻孔技术在深部脑刺激中的应用:209例患者的回顾性研究

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摘要

Background:Skin erosion/infections due to deep brain stimulation hardware are highly worrisome complications. They can lead to the removal of the entire deep brain stimulation device, and consequently hold the whole treatment in otherwise pharmacologically refractory patients. Several techniques have been used such as C-shape skin incision and dual floor burr hole or single passage of connecting cables to reduce the incidence of skin complications.
机译:背景:深部脑刺激硬件引起的皮肤侵蚀/感染是令人担忧的并发症。它们可以导致整个深部脑刺激设备的拆除,从而将整个治疗保留在其他药理学上难以治疗的患者中。已经使用了多种技术,例如C形皮肤切口和双地板毛刺孔或连接电缆的单通道,以减少皮肤并发症的发生。

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