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X荧光仪在河南方城化探样品中Pb含量分析试验讨论

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摘要

X荧光分析仪在河南方城化探样品中,对Pb含量进行荧光分析试验,利用与化学分析对比的方法,说明了荧光分析的灵敏度、准确度和精密度.测试结果证明,该技术方法性能优越,它是化探工作中测试工作快速、准确、现场化、数字化的可行性手段.

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来源
《西部探矿工程》 |2011年第2期|167-169|共3页
作者
程书乐; 程永平;
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作者单位

河南省地质矿产勘查开发局第二地质勘查院,河南,许昌,461000;

河南省地质矿产勘查开发局第二地质勘查院,河南,许昌,461000;

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正文语种 chi
中图分类矿床分类;
关键词
HIX-1型荧光仪; 荧光分析; Pb元素; 基体效应;

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