首页> 中文期刊> 《传感器与微系统》 >基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

基于线阵CCD拼接技术的一维尺寸测量

开具论文收录证明 >>

期刊封面封底目录下载 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

通过分析基于线阵CCD传感器的一维尺寸测量原理,提出了采用拼接技术测量较大一维尺寸的测量方案,并系统分析了该方案的测量误差.实验表明:采用该方案进行一维尺寸测量时,可以达到较大的测量范围和较高的测量准确度.

著录项

来源
《传感器与微系统》 |2004年第7期|57-59|共3页
作者
余震; 文艺;
展开▼
作者单位

安徽建筑工业学院,数理系,安徽,合肥,230022;

武汉重工铸锻有限责任公司,湖北,武汉,430084;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP212.9;
关键词
线阵CCD; 尺寸测量; 误差分析;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 线阵CCD一维尺寸测量的实验 [J] . 贺永方 ,齐龙 . 实验室科学 . 2006,第006期
2. 线阵CCD机械拼接技术的高精度测量研究 [J] . 戴锐青 . 传感器世界 . 2011,第009期
3. 线阵CCD应用于多个目标测量时的图象拼接技术 [J] . 沈为民 . 光电工程 . 1997,第005期
4. 基于线阵CCD的机器视觉尺寸测量精度的探究 [J] . 史瑞 ,吴辛培 ,王珊 . 黑龙江科技信息 . 2021,第022期
5. 基于线阵CCD的机器视觉尺寸测量精度的探究 [J] . 史瑞 ,吴辛培 ,王珊 . 科学技术创新 . 2021,第022期
6. 线阵CCD微小尺寸测量的基本原理与误差分析 [C] . 杨博雄 ,胡新和 ,傅辉清 . 全国十五届十三省光学学会学术大会 . 2006
7. 基于线阵CCD回转体尺寸测量技术的研究 [A] . 孙健 . 2009

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号