数控机床进给伺服系统的检测方案及仿真研究

摘要

本文对数控机床进给伺服系统采取了三种不同的检测方案,并对三种方案进行了建模仿真和性能分析,在此基础上提出了进给伺服系统的双闭环控制.研究结果表明,双闭环控制策略不仅可以提高伺服系统响应的快速性,而且还能改善系统控制的稳定性,能更好地满足高精度数控机床的性能要求.