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谭伟; 刘尚合;
军械工程学院静电研究所;
静电放电; 模型; 测试标准;
机译:进场物体的静电放电(ESD)的通用模型:多次放电和进场速度的分析(转载于《电气过应力/静电放电研讨会论文集》,2000年)
机译:绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的累积静电放电(ESD)损坏的测试方案和退化模型
机译:绝缘栅双极晶体管(IGBT)预测累积静电放电(ESD)损伤的测试方案和降解模型
机译:静电静电放电(ESD)的广义模型:多种放电分析及速度
机译:可穿戴医疗设备中的静电放电(ESD)风险:评估标准测试方法并开发电流预测模型
机译:4CPS-213评估和比较预放电药物和解模型到放电后模型
机译:静电放电注入提高混合电压I / O接口电路中堆叠NmOs的机器模型EsD稳健性
机译:静电放电(EsD)模拟器实验(用于EsD仿真电路的某些开关/继电器的测试)
机译:充电设备模型(CDM)通过电容涂层的静电放电(ESD)失效率
机译:利用平面图设计保护集成电路免受ESD事件的静电放电(ESD)保护结构以及相关的集成电路和ESD保护方法
机译:静电放电(ESD)保护结构,利用地板计划设计来保护集成电路不受ESD事件影响,以及相关的集成电路和ESD保护方法
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