基于光学靶标的天线型面高精度摄影测量

摘要

cqvip:天线型面的高精度测量是天线研发与生产过程当中的一个重要环节,特别是天线表面镀有镀膜的情况就需要用到非接触式的高精度测量方式,文章介绍了利用光学靶标投射器投射光学靶标代替传统反光标志点的非接触工业摄影测量技术,并对该技术的适用性与精度进行了一系列的对比测试,利用该测量技术得出的测量精度指标RMS与三坐标测量机所测RMS值进行比较,结果表明两者RMS值仅相差0.002 mm,同时与传统粘贴人工反光标志点测量RMS值相比较优于后者0.002 mm。以上测量结果对比验证了利用光学靶标投射器对镀膜天线型面的摄影测量的可靠性与测量精度满足高精度天线型面检测需求,实现了基于光学靶标的真正意义上的非接触高精度测量,为基于光学靶标的摄影测量在镀膜天线型面检测等方面的应用提供参考。