特殊形貌原料药晶型测定方法的研究

摘要

对药厂送检的原料药通过扫描电镜,单晶衍射仪确定原料药的形貌以及晶体结构点阵参数,计算理论X射线粉末衍射图谱,对原送检样品通过反射模式测试XRD重复性较差,通过不同时间研磨后X射线粉末衍射测试发现研磨会导致晶型的转变。最后采用旋转透射的方法能很好的消除择优取向,测试结果重复性较好。