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集成电路电磁兼容测试技术概述

     

摘要

随着电子工业的发展,集成电路的功能要求日趋多样化,内部结构日趋复杂化,越来越多的功能,甚至是一个完整的片上系统都能够被集成到单个芯片之中,包含模拟、数字等多种形式的工作电路于一体.这种发展趋势使得芯片级的电磁兼容问题显得尤为突出.主要介绍集成电路电磁发射测量技术的发展状况.

著录项

  • 来源
    《硅谷》|2008年第19期|34-34,65|共2页
  • 作者

    王媛媛; 许琼; 童军;

  • 作者单位

    西安科技大学电气与控制工程学院,陕西,西安,710054;

    西安科技大学电气与控制工程学院,陕西,西安,710054;

    西安科技大学电气与控制工程学院,陕西,西安,710054;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 测试和检验;
  • 关键词

    集成电路; 电磁兼容; 测试;

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