食管癌高发家族成员脆性部位，SCE与DNaseI敏感区的相关研究

摘要

采用延长培养时间的低浓度对酸诱导及Ｂｒｄｕ替代２～４个细胞周期的方法及染色体原位切口移位技术，对３０例高发家族成员，２４例低发家族成员及２０例正常人进行脆性部位、ＳＣＥ及ＤＮａｓｅＩ敏感区的观察分析。结果表明：高发家族的脆性部位和ＳＣＥ检出率（６．９０％；７．５６±１．４１）明显高于低发家族（３．５０％；５．２４±０．９２）及正常人（３．２０％；４．８６±１．５１）Ｐ＜０．０５。ＳＣＥ发生在１６个高发染色体位点上，多居于染色体Ｇ显带的浅带区并与脆性部位、癌基因位点及ＤＮａｓｅＩ敏感区有一定的相关性。