早产儿缺氧缺血性脑损伤的CT表现

摘要

@@新生儿缺氧缺血性脑病(HIE)是指在围产期窒息缺氧导致脑的缺氧缺血性损害，临床出现一系列脑病的表现。但由于早产儿和足月儿存在生理解剖上的差异，当发生缺氧缺血时，导致的后果可能不同。我们观察了48例早产儿HIE头颅CT表现，以32例足月儿作为对照，来探讨早产儿CT表现特点。其中76例有随访结果。rn1 资料与方法rn1.1 临床资料：两组患儿均符合HIE临床诊断标准［1］。本文资料为1999年1月至2000年6月期间在我科住院的临床诊断为HIE的患儿。足月儿32例，早产儿48例，其中胎龄≤32周的早产儿23例，32周至不足37周的早产儿25例。观察组男25例，女23例；对照组男19例，女13例。rn1.2 方法：以眶耳线(OML)为基线，层厚10 mm，轴位连续扫描，患儿均未使用增强剂。