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田光炎;
无;
硅; 外延技术; 雾片; 缺陷; 消除;
机译:分子束外延生长的外延结构中椭圆形缺陷的性质和成因
机译:硅片衬底微粗糙度对外延硅片表面颗粒的影响
机译:用PL测量研究未掺杂BaSi_2外延膜中缺陷水平的成因。
机译:4H碳化硅散装晶体,外延层和功率装置的缺陷结构分析
机译:纳米岛上集成的基于消逝的硅片上硅片实验室和聚二甲基硅氧烷混合平台用于检测重组生长激素
机译:促红细胞生成因子通过GATA1基因调控由转录伸长系数雾雾/ SPT5调节
机译:硅的缺陷结构分析。 semix材料的表征。低成本太阳能电池阵项目大面积硅片任务的硅片增长发展
机译:单晶硅片,单晶硅片和外延硅片
机译:碳化硅外延硅片,硅片的制造方法以及在硅片上生产的半导体器件
机译:带有化学雾的化学反演方法,化学雾成因及其在生产影像图像中的用途
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